(半導體) 半導體CoWoS封裝AI量檢測應用場域

• 服務專線：

1. 周森益/技術副組長 電話：03-5912890 信箱：[email protected]

(1) 服務項目

1. 材料性能的優化與智慧化質量控制：本平台專注於先進材料檢測，進行跨儀器整合分析，全面掌握材料的表面形貌、結構與成分。透過AI驅動的自動化缺陷分類與根因分析，快速定位問題來源，減少人工分析時間與錯誤。平台同時提供材料開發與設計最佳化建議，幫助研發團隊加速新材料開發、提升性能表現，實現高效率、高精度的材料創新與質量優化。

2. AOI+AI技術提升量檢測技術服務：本平台透過AOI來結合AI技術，可用於影像缺陷檢測的資料庫建置，並可藉由AI快速並自動標記瑕疵位置，亦可用於訊號處理資料庫建置，藉由量測訊號來快速比對資料庫資料，可一次獲得結構關鍵尺寸多參數的量測資訊。

3. AI結合XCT增加半導體CoWoS封裝量檢測技術服務：本平台提供國內半導體先進CoWoS封裝業者產品缺陷檢測分析服務，進一步支援AI自動化量檢測缺陷判斷及數據分析，提升量檢測效率。

(2) AI人才培訓

培養具備半導體量檢測技術及基礎知識，可快速掌握AI缺陷辨識、AI資料庫建置及AI資料比對等基礎，可培訓量檢測應用AI技術解決問題的人才，與熟悉AI工具與演算法，並應用於檢測缺陷分析、量測關鍵尺寸等參數最佳化。內容如下：

•  AI於半導體AOI檢測的導入與應用基礎(可立即開課)：
•  量檢測基礎-量測不確定度評估(8小時)
•  半導體量檢測技術介紹(8小時)
• 常見AI模型及工具使用(8小時)
• AI基礎導論及導入量測技術可行性發展(4小時)
• 量檢測機台實際操作(2小時)
• AI於半導體AOI檢測模型建構與實作工作坊：
• 工具應用：AI模擬設計工具實機操作(8小時)
• 建立影像訓練資料集與標記流程(8小時)
• 半導體量檢測技術結合AI之應用(8小時)
• 實務案例導入討論與成果分享(6小時)

(3) 國際同步高階設備：

(4) 預計新增服務或設備：

1. 短期(本年12月底前)：完成一套以上AI量檢測相關資料庫建置，並可提供初步量測設備進行AOI+AI的技術結合測試。

2. 中長期：提供跨儀器數據整合分析、自動化缺陷分類與根因分析、材料開發與設計最佳化、半導體量檢測設備量測分析、AI檢測影像及量測訊號訓練資料、AI資料庫及量測流程標準化、半導體先進封裝缺陷檢測、AI量檢測數據分析、成品品質異常數據化等服務，預期可使量檢測時間縮短30%以上，同時降低成本，提供國內半導體相關服務。

(5) 地點：工業技術研究院-光復院區(新竹市光復路二段321號)

(6) 服務時間：星期一至星期五09:00~12:00/13:00~17:00(國定假日除外)

• 發布日期：2025/06/02
• 最後更新時間： 2025/06/02
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